技術指標： 型號： EDX 1800 B X熒光光譜儀 測試對象： 粉末、固體、液體 元素分析范圍： 硫（S）－鈾（U） 同時最多可測元素： 75種 含量分析范圍： 1ppm～99.99% 工作穩(wěn)定性： 總熒光強度為0.1％ 測試時間： 60～200秒 檢測器分辨率： 160±5eV 多道分析器： 2048道 X射線光管： 功率50W，靶材可選Ag、Rh、W、Mo 高壓電源： 電壓范圍0~50KV，穩(wěn)定度每小時小于0.05% 外型尺寸： 550mm*416mm*333mm 測量倉： 460mm*298mm*98mm 重量： 45Kg 檢出限： Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm 鍍層技術參數(shù)： 可測鍍層數(shù)： 最多可達5層 鍍層種類： 單金屬鍍層、合金鍍層 鍍層識別精度： 分析檢出限可達2ppm，最薄可測試0.005μm。 厚度測試范圍： 輕金屬（如：Ti、Cr等）0.01～50um 中金屬（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um 重金屬（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um 計數(shù)率： 1300-8000cps